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重磅 ! 拓普光研携3D折射率成像表征系统亮相西安 CIOP2024
来源: | 作者:topphotonics | 发布时间: 2024-08-08 | 260 次浏览 | 分享到:

随着信息光学与光子学领域的不断发展,我们诚挚地邀请您参加即将于2024年8月11日至15日在西安举办的第十五届国际信息光学与光子学学术会议(CIOP 2024)。本次会议是光学界一年一度的重要学术盛会,旨在汇聚全球光学领域的专家学者、工程技术人员和学生,共同探讨和展示最新的研究成果和技术进展。


会议现场,拓普光研将携Innofocus Benchtop 3D折射率表征系统隆重亮相!该系统实现了原位高速三维表征,单一设备实时监测,把光学微纳加工检测由多步变一步,开创了3D光子器件无损表征检测的全新解决方案。Innofocus技术专家将现场演示Benchtop 3D折射率成像表征系统,邀请用户一同见证实时表征的全过程。

  会议时间:2024年8月11日-15日  

  会议地点:西安索菲特人民大厦会议中心(西安市东新街319号) 
  会议网址:https://www.researching.cn/conference/CIOP2024