线宽测试系统 OE4000
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线宽测试系统 OE4000

所属分类: 测试仪表 >> 激光测试

关键词:线宽、相位噪声、频率噪声、RIN


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邮 箱:sales@topphotonics.cn

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商品描述

所属分类: 测试仪表 >> 激光测试

关键词:线宽、相位噪声、频率噪声、RIN


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产品简介
线宽测试系统OE4000采用零差法,对超低相位噪声的连续激光光源进行全自动测量。测量过程简单快速,并且不需要外置的参考光源,能够实现小于3Hz的线宽测量,同时能够进行波长范围、本底噪声、输入功率、RIN测量等功能扩展。





主要特点

▪   波长测量范围:630-2200nm
▪   RIN噪声测量
▪   超低相位/频率噪声测量
▪   快速实时测量
▪   无需低噪声参考光源
▪   良好的用户界面
▪   简便的计算机操作

参数指标

波长范围

1530-1565nm

标准本底噪声

250Hz/√Hz

50Hz/√Hz

10Hz/√Hz

3Hz/√Hz

超低本底噪声(选配)

50Hz/√Hz

10Hz/√Hz

2Hz/√Hz

0.2Hz/√Hz

洛伦兹线宽灵敏度

<10Hz,<10μs(标准本底噪声)

<0.5Hz,<10μs(超低本底噪声)

FWHM 线宽范围

1kHz-10 MHz(<10ms)(标准本底噪声)

3Hz-30kHz(<10ms)(超低本底噪声)

动态范围

60dB

本底相位噪声

-140±2dBc / Hz>1MHz

输入光功率

+5-+15dBm(PM-FC/APC)

测量类型

频率噪声 / 零差相位 / RIN(选配)

分辨率带宽

0.1-200kHz

数据存储 I/O

HDD / USB

波长扩展(选配)

740-935/965-1065/1000-1100/1260-1360/1950-2150nm






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